靜態顆粒圖像儀

靜態顆粒圖像儀

型號：ZKWN-1600

一、產品簡介

       ZKWN-1600靜態圖像顆粒分析系統還具有很多獨特圖像處理功能，包括自動拍攝、自動分割、自動填充、批處理多幅圖像、準確性標定等。其中眾多的“自動"功能簡化了操作，提高了效率；批處理多幅圖像功能，徹底克服了傳統的靜態圖像顆粒分析系統僅能分析單幅圖像，導致顆粒數太少，代表性不足，結果不準確的問題。它可以拍攝很多幅圖像，對這些圖像一幅一幅地處理，每一幅處理過的圖像上的顆粒都匯集到一起，提高了代表性。

二、靜態顆粒圖像儀-主要技術指標與性能

產品特點:

*出色的外觀設計，符合人機工程學的結構設計

*機身一體化的設計，使產品長期保持優異穩定性能

*優質的3WLED照明，穩定和超常使用壽命

*無限遠色差校正光學系統，普通光學校正系統，可滿足不同用戶的需求

成套性

三、主要應用領域：（觀察粒形、分析粒度、監測大顆粒）

   • 磨料：如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。

   • 電池材料：球形石墨粉等。

   • 金屬粉：如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。

   • 非金屬粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。

   • 針狀粉：如硅灰石等。

   • 生物制劑：如細胞。

   • 食品：如牛奶、面粉等。

   • 其他：如科研、教學等。

四、測試原理

   • 標定方法：用顯微鏡專用標準刻度尺直接標定每個像素的尺寸，再根據每個顆粒圖像面積所占的像素多少來度量顆粒的大小，以微米為單位。

   • 測試原理：通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等。為計算方便，ZKWN-1600圖像顆粒分析儀是以100個像素為一個計量單位的。